産総研と工学部・小峰 啓史 准教授ら共同でナノワイヤーの新たな評価技術を開発

国立研究開発法人 産業技術総合研究所(産総研)省エネルギー研究部門電変換グループ 村田 正行 研究員、山本 淳 研究グループ長は、国立大学法人 埼玉大学大学院理工学研究科 長谷川 靖洋 准教授、国立大学法人 茨城大学工学部 小峰 啓史 准教授と共同で、新しい効果の発現が期待されるビスマスナノワイヤーのホール係数を測定する技術を開発しました。

今回、直径 700 nm、長さ 2.69 mm のビスマスナノワイヤーに、微細な加工と観察ができる FIB-SEM 装置を用いて、微細電極を形成することで、ナノワイヤーにおけるホール係数の精密測定に世界で初めて成功しました。また、測定の結果、キャリア移動度がバルクのビスマスと比べて大幅に低下することを実験的に初めて明らかにしました。今回開発した測定技術の応用により、様々なナノワイヤーの物性解明への貢献が期待されます。

なお、この技術の詳細は、2016年12月12日にアメリカ化学会が発行する国際学術誌Nano Letters のオンライン版で発表されました。

詳しくはプレスリリースをご覧ください。

【プレスリリース(PDFファイル)】ナノワイヤーの新たな評価技術を開発 - ナノテクノロジーを駆使してホール係数の測定に成功 -

ナノワイヤーのホール係数測定技術の模式図

(2016年12月12日)